Instytut Obróbki Plastycznej

Proszę zapoznaj się z naszą Klauzulą Informacyjną.

Korzystanie ze strony oznacza jej akceptację.

W tej witrynie stosujemy pliki cookies. Standardowe ustawienia przeglądarki internetowej zezwalają na zapisywanie ich na urządzeniu końcowym Użytkownika. Kontynuowanie przeglądania serwisu bez zmiany ustawień traktujemy jako zgodę na użycie plików cookies.

System skaningowego mikroskopu elektronowego

System skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Inspect S i spektrometru EDS Octane Elect Silicon Drift Detector (SDD) firmy EDAX umożliwiają generowanie i zbieranie wszelkich możliwych informacji generowanych z próbek materiałów przewodzących lub nieprzewodzących.

Główne elementy i charakterystyki układu optycznego mikroskopu Inspect S:

  • Napięcie przyspieszające 200 V do 30 kV
  • Rozdzielczość

Rozdzielczość SE:

  • 3.0 nm (separacja ziaren złota na błonce węglowej) przy 30 kV, w obu trybach próżniowych,
  • 10 nm przy 3 kV w trybie wysokopróżniowym
  • <12 nm przy 3 kV w trybie niskopróżniowym.

Rozdzielczość BSE:

  • 4.0 nm (separacja ziaren złota, zwieszonych na błonce węglowej) przy 30 kV, w obu trybach próżniowych
  • Powiększenie 6x (przy największe odległości roboczej) do 120,000x, dla standardowego monitora LCD o przekątnej 19 cali
  • Standardowe detektory systemowe

System Inspect S wyposażony jest w detektory niezbędne do detekcji elektronów wtórnych (SE) w całym dostępnym zakresie próżniowym:

  • w trybie wysokiej próżni: konwencjonalny detektor SED Everharta-Thornley’a ze zmiennym potencjałem siatki;
  • w trybie niskiej próżni: szerokopolowy gazowy detektor LF-SED (trzeciej generacji), montowany nie-osiowo, wyposażony w udoskonalony przedwzmacniacz sygnału;
  • detektor elektronów wstecznie rozproszonych SS BSED
  • analityczny „gazowy” detektor elektronów wstecznie rozproszonych GAD SS BSED EDS

Detektor Si(Li) przeznaczony do detekcji wszystkich pierwiastków od berylu wzwyż.

Oprogramowanie jakościowej i ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej do próbek badanych w skaningowym mikroskopie elektronowym, korzystające z algorytmów korekcji macierzowych ZAF i oferujące następujące możliwości:

  • Całkowicie bezwzorcowa analiza ilościowa
  • Możliwość uwzględniania współczynników korekcji dla pierwiastków lekkich
  • Pełna możliwość analizy ilościowej z wykorzystaniem wzorców czystych pierwiastków, wzorców związków lub wzorców częściowych
  • Zaawansowany pakiet oprogramowania do akwizycji i wyświetlania cyfrowych obrazów elektronowych (SE, BSE etc.) i/lub map rentgenowskich rozkładu pierwiastków. Zebrane obrazy mogą być drukowane lub archiwizowane na dyskach. Możliwa jest jednoczesna akwizycja do 36 obrazów,  w tym każda kombinacja do 35 map rtg i do 2 obrazów elektronowych.
  • Możliwość rejestrowania profili rozkładu pierwiastków wzdłuż linii prostej, przy czym rezultaty są przesyłane do programu arkusza kalkulacyjnego MS-Office Excel i tu dostępne do przeglądania oraz ewentualnej dalszej obróbki. „Skany liniowe” mogą być rejestrowane wzdłuż wybranej linii prostej zorientowanej w jakimkolwiek kierunku i przechodzącej przez jakikolwiek punkt na obrazie.